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Europäische Kommission präsentiert neuartige Qualitätstechnologie für die Fahrzeugmontage

01.05.2003 - (idw) CiS Institut für Mikrosensorik gGmbH

Ergebnisse aus der langjährigen Zusammenarbeit mit dem deutschen Bushersteller MAN auf den Gebiet der Integration industrieller Bildverarbeitung werden erstmals auf der CONTROL 2003, vom 6.- 9. Mai in Sinsheim gezeigt.
So wird demonstriert, wie mit einem handgeführten optischen Koordinatenmesstaster große Fahrzeugteile und Karosserien unter Produktionsbedingungen hochgenau vermessen werden. Zeitersparnisse bis zu 75 % gegenüber herkömmlichen Verfahren bei gleichzeitiger Verringerung von Korrektur- und Nacharbeiten sind nachgewiesen.

Aktuelles erfahren Sie auf unserem Pressetreff am 7. Mai 2003, 11-12 Uhr, Kongresszentrum der Messe Sinsheim, Raum 3.

Die Entwicklungsprojekt erfolgte im Rahmen des von der Europäischen Kommission geförderten Clusters zur integrierten Bildverarbeitung EUTIST-IMV, einem europaweiten Verbund zur Stimulierung der Integration von Bildverarbeitungslösungen in industrielle Fertigungsprozesse. Das Projekt, IMBUS genannt (Inspektion and Überwachung der Busfertigung), verfügt über ein enormes Anwendungspotential, das seine Einsatzfelder, z.B. bei Fertigungen von Schienenfahrzeugen, Lastkraftwagen und Großcontainern erahnen lässt.

Arne Oetzmann, der Koordinator des Projektes von der Technischen Universität Braunschweig hob hervor , dass "dieses optischen Handmessgerät die Durchführung von Messaufgaben in der Qualitätsinspektion revolutionieren wird. Ich bin sicher, dass die Messebesucher von den Möglichkeiten des neuen Systems fasziniert sein werden.

Das Meßsystem wurde von dem Braunschweiger AICON 3D Systems GmbH entwickelt, einem führenden Entwicklungshaus auf dem Gebiet der 3D Messtechnik.

Das EUTIST-IMV Cluster wird auf der CONTROL 2003 mit einem Gemeinschaftsstand in Halle 6, Platz 6609 vertreten sein. Besucher haben hier Gelegenheit neben dem IMBUS Demonstrator auch integrierte Bildverarbeitungslösungen für andere industriellen Fertigungsprozessen kennen zu lernen, so für die Glas-, Metall- und Lederindustrie. Die Anwendungen reichen dabei von der Bildinspektion und Überwachung von Innenoberflächen von Bohrungen über die Echtzeit-3D-Inspektion von Drehteilen, die automatische Kontrolle der Profiländerungen von Werkzeugen durch Verschleiß bis zur automatischen Qualitätskontrolle von genieteten Metallblechen.

Darüber hinaus präsentiert der EUTIST-IMV Stand Lösungen zur automatischen Kontrolle von Autoglas auf Einschlüsse, Kratzer, Blasen, Risse und andere Materialdefekte sowie für die automatische Klassifikation von natürlichen Rohmaterialein , wie Leder und Kork.

"Integrierte industrielle Bildverarbeitung ist eine junge Technologie, die gerade im Begriff ist, Europa und die Welt zu erobern", so Dr. Dietmar Starke, EUTIST-IMV Cluster-Koordinator vom CiS Institut für Mikrosensorik gGmbH Erfurt.
Dabei stellte er klar: "Die CONTROL 2003 ist eine hervorragende Plattform, um die Rolle der Europäische Kommission bei der Stärkung der europäischen Marktes herüberzubringen und gleichzeitig am Beispiel der präsentierten Projekte deren konkrete Unterstützung für die europäischen Unternehmen zu zeigen."

Das europäische Cluster EUTIST-IMV umfasst europaweit insgesamt 23 solcher Pilotprojekte für verschiedene Anwendungssektoren und Industriebranchen. Weitere, auf der CONTROL 2003 nicht vertretene Anwendungen beziehen sich auf Anwendungen zur automatischen Inspektion, Messung und Steuerung in den Bereichen Automobil-, Holz- und Lebensmittelindustrie sowie auf die Textil- und Elektronikbranche.

Ende

Bildinformationen finden Sie auf unserer Homepage unter:

http://www.eutist-imv.com

Zu weiteren Informationen und Anfragen zu Interviews wenden Sie sich bitte an:
Dr. Dietmar Starke
EUTIST-IMV Koordinator
CiS Institut für Mikrosensorik gGmbH
Tel: +49 (0) 361 663 14 74
Email: dstarke@cismst.de
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