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Test komplexer Elektronik

26.02.1999 - (idw) Brandenburgische Technische Universität Cottbus

Workshop von BTU Cottbus und Uni-Potsdam vom 28. Februar bis 2. März 1999 in Potsdam

Presseinformation
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26. Februar 1999


Test komplexer Elektronik
Workshop von BTU Cottbus und Uni Potsdam vom 28. Februar bis 2. März 1999 in Potsdam

Fehlerhafte Elektronikbausteine sind mehr als nur ein Ärgernis. Im Auto und anderswo können sie zum Sicherheitsrisiko werden. Deshalb ist der Test von Bausteinen und Baugruppen vor dem Einbau in den Computer oder in die Motorsteuerung des Autos zwar teuer, aber unverzichtbar. Auf einem hochintegrierten Schaltkreis werkeln bis zu zehn Millionen Transistoren. Ob einer davon fehlerhaft ist oder nicht, ist äußerlich nicht sichtbar. Das Feststellen von Fehlern ähnelt der berühmten Suche nach der Stecknadel im Heuhaufen. Da Elektronik heute in Geräten und Anlagen allgegenwärtig ist, betrifft das Test-Problem nicht nur die großen Halbleiterhersteller, sondern eine Vielzahl von Unternehmen.
Die Informationstechnische Gesellschaft (ITG) im Verein deutscher Ingenieure (VDI), die Gesellschaft für Informatik (GI) und die Gesellschaft für Mikroelektronik (GMM) veranstalten deshalb jährlich den Workshop "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen". Dort stellen Teilnehmer aus Hochschulen, Forschungseinrichtungen und der Industrie die neuesten Entwicklungen auf dem Gebiet vor, diskutieren aber ebenso Probleme und Lösungen. Den vom 28. Februar bis zum 2. März 1999 stattfindenden 11. Workshop dieser Art konnten Prof. Dr. Michael Gössel, Institut für Informatik der Universität Potsdam, und Prof. Dr. Heinrich-Theodor Vierhaus, Lehrstuhl Technische Informatik der Brandenburgischen Technischen Universität Cottbus, nach Brandenburg holen.

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